Difracción de rayos X y el método Rietveld

Estas notas tienen como objetivo presentar, en primer lugar, la parte teórica relacionada con los aspectos principales de la difracción de rayos-x. Con estos aspectos teóricos el lector entenderá como se calculan las diferentes características estructurales de una muestra a estudiar por medio de un programa basado en el Método Rietveld. En segundo, lugar se describe someramente como trabaja el método y se muestran las relaciones empíricas que se utilizan para describir el perfil de las líneas de difracción; luego se enumeran y explican cuáles son los parámetros que refina el programa GSAS y cómo ellos se relacionan con las informaciones estructurales de interés. Posteriormente, se muestran los pasos a seguir para refinar un patrón de difracción de una muestra de calibración (hexaboruro de Lantano, LaB6) y se resalta el papel de ella en la obtención de los parámetros estructurales de otras muestras a estudiar; luego se ilustran los pasos a seguir para refinar unos patrones de difracción de muestras con orientación preferencial (brucita) y de aquellas con tres fases y obtener, además de los parámetros estructurales, un análisis cuantitativo de ella.