Universidad Nacional Autónoma de México - UNAM
Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característic...
Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
Guillermina González Mancera y María Eugenia Noguez Amaya
Universidad Nacional Autónoma de México - UNAM ·México ·2023 ·Español
E-book ISBN 9786073080866
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Formatos
| Formato | ISBN | Recordreference | DOI | Año |
|---|---|---|---|---|
| E-book · ed. 1 | 9786073080866 | SIMEHEBOOKT4TD3ZNGJLS8A5Q1TEZ3 | — | 2023 |
Sobre esta obra
El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.